根据约翰·霍普金斯医学院研究人员领导的一项小型但全面的研究，心脏代谢异常的成年人患危及生命的心律失常（不规则心律）的可能性高出三倍，磁共振成像技术可用于检测这种情况并预测未来的心脏性猝死（SCD）。
这些发现最近发表在JCI insight上。
约翰·霍普金斯大学医学院医学教授、该研究第一作者、医学博士罗伯特·韦斯说：“我们认为，这是人们心脏代谢受损首次与危及生命的心律失常或心脏猝死风险增加相关。”，“这可能为一种新方法打开了一扇窗，一种治疗或预防严重心律失常的代谢方法，目前在心脏病学中尚不可用。”
根据美国心脏协会（American Heart Association）的数据，心脏性猝死占美国所有心血管疾病死亡人数的50%，每年造成30多万人死亡。目前，在高危人群中避免SCD的主要方法是植入式心脏复律除颤器（ICD），这是一种放置在胸部的小型电池供电设备，用于检测和预防异常心律。该装置持续检查心律，并在必要时进行电击，以使心跳恢复正常。ICD的电池寿命通常为5至7年。
T.Jake Samuel博士说：“七年来，这些装置中有60%-70%从未被用于挽救生命。我们每年花费数十亿美元用于植入ICD，这些ICD有手术和术后风险。需要非侵入性方法来更好地评估谁需要或不需要ICD来预防心脏猝死。”
三磷酸腺苷（ATP）是细胞能量的主要化学来源，在46名参与者接受ICD一级预防之前，塞缪尔及其同事监测了他们的心脏。该研究的合著者Paul Bottomley博士在约翰·霍普金斯医学院开发了磁共振波谱（MRS）方法，通过临床磁共振成像扫描仪监测心脏ATP水平，以确定个体是否存在ATP代谢异常。为了确定哪些患者在发生危及生命的心律失常时进行了适当的ICD启动，所有患者在10年内平均每3至6个月进行一次评估。
结果表明，与ATP代谢正常的人相比，心脏ATP水平低（代谢受损）的人发生心脏性猝死的风险（如果不通过ICD干预挽救）高出三倍。在调整低左室射血分数后仍然如此，目前用于确定是否需要ICD的一级预防。
Samuel及其同事报告说，“在研究期间的10年中，大约80%的心脏ATP水平正常的人从不需要ICD。”他们表示，研究结果可以补充现有方法，并导致更好地预测谁最有可能需要或不需要ICD。然而，他们强调需要更多的研究来评估不同和更大的人群。
韦斯说：“但我们对这些真正的新发现感到兴奋，这可以说是人类的第一个发现，并相信它们可以改变医生评估心源性猝死风险的方式。一旦我们确认代谢与SCD相关，我们希望研究哪些药物可以保护和改善ATP代谢，以及它们是否可以用于降低SCD的风险。”